starkes Rauschen mit aufgesägter BPX61

Ideen, Hinweise, Erfahrungen beim Messen von Radioaktivität

Postby pathof » Sat Jan 26, 2013 12:00 am

Hallo,

Ich habe den Strahlungsmesser (Elektor-Bausatz) aufgebaut und er funktioniert mit der beigelegten BPW34 sehr gut (getestet mit Kaliumkarbonat). Allerdings wollte ich auch eine Alpha-Teilchen-Empfindlichkeit und habe eine BPX61 gekauft und aufgesägt. Die Foto-Diode ist nach dem Ausägen noch funktionstüchtig (Spannung bei Belichtung unverändert ggü. Original-Zustand / Dunkel-Kennlinie nach aufsägen auch Ok / Sperrwiderstand bei 9V mit ca. 1,5GOhm gemessen {ca. 6nA bei 9V}).

Leider rauscht der Strahlungsmesser mit eingesetzter aufgesägter BPX61 ganz heftig: >30000 Count pro Minute. Das "Spektrum" zeigt eine nahezu gleichmäßiger Verteilung der Impulshöhen von 10 (untere Schwelle) bis 255. An der Abschirmung kann es nicht liegen, denn setze ich die BPW34 wieder ein, ist alles Ok.

Meine Frage nun: Hat jemand so etwas schon beobachtet ? Kann es sein, dass ich die BPX61 beim Aufsägen so beschädigt habe (vielleicht verdreckt ???), dass die Kennlinie zwar noch Ok ist, sie aber unter Spannung winzige Durchbrüche produziert ?

Besten Dank,
Patrick
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Postby burkhard kainka » Fri Feb 01, 2013 12:00 am

Es gibt manchmal so einen Effekt an der Seite eines Halbleiters, wo er nicht geschützt ist. Es kann eine Verschmutzung oder chemische Veränderung sein, die an der Luft entstanden ist. In vielen Fällen ist der Si-Kristall irgendwie passiviert oder anders geschützt. Manche Hersteller könnten aber auch ein Schutzgas oder Vakuum im dichten Gehäuse verwenden und den Kristall ganz offen einbauen. Dann kann sowas passieren. Normalerweise aber erst langsam. Bei meiner offenen Diode ist es jetzt schon länger als ein Jahr gut gegangen.
Eine ganz kleine Chance vielleicht noch: Falls ein Krümel Dreck oder ein ganz kleiner Metallsplitter die Ursache ist, könnte man ihn vielleicht irgendwie wegblasen.
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